LIV测试系统
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LIV测试系统

LIV/LED测试系统,测试伏安特性曲线

  • 产品详情
  •  德国Artifex 公司生产的LIV100和LIV120 为客户提供了快速和强大的激光二极管测试分析解决方案。无论是封装或裸芯片,这些系统都能在极短的时间完成大量LIV 测试工作。

    LIV100和LIV120 采用数字可编程的模拟最大值来实现灵活精确的电流控制。电流覆盖范围宽广,最大电流值为250mA;低功率版适用于低功率和光通讯激光器,高功率版最大电流值可达1200A,适用于巴条,更大电流可以根据客户要求定制。LIV100 为脉冲系统,脉冲宽度150ns-2000μs。其快速上升时间型(F-Version)可达到50ns(at 60A)升降时间而无过冲。这一独特的特性允许对高功率芯片或巴条进行准确测试,而不会对被测设备造成不适当的热负载。

    LIV120 为CW/QCW 测试系统,具备设置选择和全面的burn-in 性能。

    LIV 测试对象:

    1.Chips

    2.Bars

    3.Wafers(VCSEL)

    4.封装激光器

    5.LEDs

    型号

    LIV100

    LIV120

    脉宽

    150ns-2000μs

    0.1-60 000ms

    上升时间

    可达50ns

    5μs

    最大电流

    600A

    1200A

    最大电流步进数

    4000

    4000

    电流分辨率

    1/4000=12bit

    1/4000=12bit

    测量分辨率

    1/8000=13bit

    1/8000=13bit

    测试报告

    支持

    支持

    合格/不合格报告

    支持

    支持

    光谱仪

    可选

    可选




     德国Artifex 公司生产的LIV100和LIV120 为客户提供了快速和强大的激光二极管测试分析解决方案。无论是封装或裸芯片,这些系统都能在极短的时间完成大量LIV 测试工作。

    LIV100和LIV120 采用数字可编程的模拟最大值来实现灵活精确的电流控制。电流覆盖范围宽广,最大电流值为250mA;低功率版适用于低功率和光通讯激光器,高功率版最大电流值可达1200A,适用于巴条,更大电流可以根据客户要求定制。LIV100 为脉冲系统,脉冲宽度150ns-2000μs。其快速上升时间型(F-Version)可达到50ns(at 60A)升降时间而无过冲。这一独特的特性允许对高功率芯片或巴条进行准确测试,而不会对被测设备造成不适当的热负载。

    LIV120 为CW/QCW 测试系统,具备设置选择和全面的burn-in 性能。

    LIV 测试对象:

    1.Chips

    2.Bars

    3.Wafers(VCSEL)

    4.封装激光器

    5.LEDs

    型号

    LIV100

    LIV120

    脉宽

    150ns-2000μs

    0.1-60 000ms

    上升时间

    可达50ns

    5μs

    最大电流

    600A

    1200A

    最大电流步进数

    4000

    4000

    电流分辨率

    1/4000=12bit

    1/4000=12bit

    测量分辨率

    1/8000=13bit

    1/8000=13bit

    测试报告

    支持

    支持

    合格/不合格报告

    支持

    支持

    光谱仪

    可选

    可选